產(chǎn)品名稱(chēng)：西門(mén)子物位計(jì)7ML54400AA001AB2原廠(chǎng)供貨
更新時(shí)間：2025-05-21
產(chǎn)品報(bào)價(jià)：
產(chǎn)品特點(diǎn)：西門(mén)子物位計(jì)7ML54400AA001AB2原廠(chǎng)供貨物位測(cè)量通常指對(duì)工業(yè)生產(chǎn)過(guò)程中封閉式或敞開(kāi)容器中物料（固體或液位）的高度進(jìn)行檢測(cè)，如果是對(duì)物料高度進(jìn)行連續(xù)的檢測(cè)，稱(chēng)為連續(xù)測(cè)量。如果只對(duì)物料高度是否到達(dá)某一位置進(jìn)行檢測(cè)稱(chēng)為限位測(cè)量。完成這種測(cè)量任務(wù)的儀表叫做德國(guó)西門(mén)子SIEMENS物位計(jì)。
西門(mén)子物位計(jì)7ML54400AA001AB2原廠(chǎng)供貨的詳細(xì)資料：
西門(mén)子物位計(jì)的測(cè)量
對(duì)于液面相對(duì)平穩(wěn)的罐體，且被測(cè)液體的介電常數(shù)較高，可以選擇普通雷達(dá)物位計(jì)。對(duì)于液面波動(dòng)大、或帶有攪拌的罐體，或被測(cè)液體的介電常數(shù)較低，應(yīng)優(yōu)選導(dǎo)波雷達(dá)。
因?yàn)閷?dǎo)波管對(duì)液面有整型作用，且導(dǎo)波雷達(dá)的微波反射不易受環(huán)境條件變化的影響。被測(cè)液體的介電常數(shù)和密度變化對(duì)測(cè)量結(jié)果沒(méi)有影響。對(duì)于被測(cè)液體的粘度≥500cst，且液體粘附性較強(qiáng)的情況，不能選擇導(dǎo)波管方式測(cè)量，因?yàn)檎掣胶徒Y(jié)晶會(huì)堵死導(dǎo)波管。
從而形成虛假物位。可以選擇導(dǎo)波桿方式來(lái)測(cè)量。當(dāng)介質(zhì)在探頭上的涂污對(duì)測(cè)量物位的影響可分為兩種：膜狀涂污和橋接。膜狀涂污是在物位降低時(shí)，高粘液體或輕油漿在探頭上形成的一種覆蓋層。由于這種涂污在探頭上涂層均勻，因此對(duì)測(cè)量基本無(wú)影響；
但橋接性涂污的形成卻能導(dǎo)致明顯的測(cè)量誤差，當(dāng)塊狀或條狀介質(zhì)污垢粘結(jié)于波導(dǎo)體上或橋接于兩個(gè)波導(dǎo)體之間時(shí)，就會(huì)在該點(diǎn)測(cè)得虛假物位。
西門(mén)子物位計(jì)的基本設(shè)定
1)根據(jù)物位計(jì)測(cè)量?jī)?chǔ)罐的形狀，設(shè)定儲(chǔ)罐特性。
2)根據(jù)檢測(cè)介質(zhì)的特性設(shè)定介電常數(shù)。
3)在過(guò)程條件一項(xiàng)選擇所測(cè)介質(zhì)的過(guò)程變化情況，如果是桿式的雷達(dá)物位計(jì)，還應(yīng)該設(shè)定探頭底部的接觸情況。
4)接下來(lái)按照工藝要求設(shè)定物位計(jì)的空標(biāo)和滿(mǎn)標(biāo)值，如果是導(dǎo)波管的還應(yīng)該設(shè)定導(dǎo)波管的直徑。
5)根據(jù)設(shè)定的空標(biāo)值做全程抑制。
西門(mén)子物位計(jì)部分型號(hào)如下：
SIEMENS PI組 液位計(jì) 7ML1127-0BA50
SIEMENS PI組 物位計(jì) 7ML1510-2CB04
SIEMENS PI組 雷達(dá)液位計(jì)7ML5427-0CL00-0AA1
SIEMENS PI組 英文說(shuō)明書(shū)7ML1998-5JM02
SIEMENS PI組 英文說(shuō)明書(shū) 7ML1998-5KE01
7ML54400AA000AA1
7ML54400AA000AB1
7ML54400AA001AA1
7ML54400AA001AA2
7ML54400AA001AB1
7ML54400AA001AB2
7ML54400AB000AC1
7ML54400AB000AC2
7ML54400AB001AA1
7ML54400AB001AC2
7ML54400BA000AA1
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